先日
2月09日の記事で中途半端に終わってしまった
半導体アナライザ2機種の使い比べ、その後の測定結果なんぞをご紹介しておきたいと思う。
測定対象の方は、色々悩んでみたけど(笑) とりあえずこんな感じで。
・2SB32 (神戸工業 =現富士通テン)
・2SB101 (日本電気)
・ST343サンプル1 (2SB165相当:日本電気)
・ST343サンプル2 (同上)
・2SD186 (三洋)
DCA75で追加されたカーブトレースの機能なんかを使おうとしても、実情としてはあまり広範囲のターゲットには対応しておらず、イマドキの高性能デバイス(というか一般的なシリコントランジスタ)なんかを測定しても
「あまり面白くない」というのが正直なところかも。
対象デバイスに加えることのできる電圧レンジとしては、高々12V程度、流すことのできる電流も10mAちょっととあっては、イマドキのトランジスタなんかは隅々まで調べてやることは不可能だ。
ということで、昭和世代に大活躍してくれた
“ゲルマニウムトランジスタ”を5種類ほど出してきた次第。
こちらでご紹介したモノも含まれているが、何せ古いパーツなもんで耐圧自体が低く、特性も(最近の素子と比べると)あまりよろしくない。 おまけに素子自体の劣化と思われる現象も知ることができるというオマケ付きで、結果から言うとかなり楽しませてもらったというところかな(笑)
DCA君が出してくれた測定結果に納得が行かず追加測定が必要になったりと、結果をまとめるのにめちゃくちゃ手間がかかったというのは置いといて

とりあえず始めてみますかね・・・